晶体管低频噪声参数测试方法 (SJ/T 11765-2020)

发布日期:2020-12-09 | 实施日期:2021-04-01

标准编号:SJ/T 11765-2020

标准名称:晶体管低频噪声参数测试方法

起草人

罗宏伟、胡为、王小强 等

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等

适用范围

适用于双极型晶体管与场效应晶体管,其他晶体管产品可参照执行

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