红外焦平面阵列参数测试方法 (GB/T 17444-2013)

发布日期:2013-11-12 | 实施日期:2014-04-15

标准编号:GB/T 17444-2013

标准名称:红外焦平面阵列参数测试方法

英文名称:Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays

起草人

丁瑞军、梁平治、曹妩媚、殷建军、唐红兰、陈洪雷

起草单位

中国科学院上海技术物理研究所

适用范围

本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。

本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。

本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。

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